单晶硅厚度样片校准测试

可提供  单晶硅厚度样片校准测试  服务，并出具证书报告

单晶硅厚度样片校准测试

别名：硅单晶厚度标准片，晶圆厚度片

型号规格：/

测量范围：200μm~1600μm

类型：校准测试

校准时效：15个工作日

不确定度：

收费标准：加微信询价 ，微�

收费单位：片

收费备注：