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扩展电阻标准片校准
测量范围:(0.001~1000)Ω·cm
型号规格:N <100>、N <111>、P <100>、P <111>/ SILICON
校准依据:JJF 1760-2019硅单晶电阻率标准样片校准规范
校准参数:电阻率
收费单位:组
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